Hsin Jou Lin

来源 :第七届海峡两岸薄膜科学与技术研讨会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:pplhome
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Due to its lower resistivity,higher thermal conductivity and better electromigration resistance copper has replaced aluminum for interconnect materials in the microelectronic technology.Nanotwinned copper exhibits ultra high yield strength,ductility and electrical conductivity.
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