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该文从分析微机芯片80C86和8031C内部结构入手，进行了空间单凿子效应引起的故障分析，并提出了软件应用的加固对策。
星载微机软件抗SEU加固研究
【摘 要】
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该文从分析微机芯片80C86和8031C内部结构入手，进行了空间单凿子效应引起的故障分析，并提出了软件应用的加固对策。
【机 构】
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航天工业总公司五院五一零所
【出 处】
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第六届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术交流会
【发表日期】
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1999年期
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