【摘 要】
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本研究工作旨在开发一粒径介於0.1mm～20mm微小颗粒之光学线性扫瞄影像分析仪，此自动化机械包括粒径整列机构模组、线性扫瞄(Line Scan)影像撷取模组、影像分析处理模组及电控驱动模组，微小粒径之颗粒经此分析仪将可自勤计算分类，以了解受测物料粒径分布特性，经分析後可得知(待)测物之粒度分布、平均粒径、均匀度、圆形度，球形度等资讯.利用Line Scan CCD影像处理，取像率可逹100％，而
【出 处】
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2009海峡两岸现代精度理论及应用学术研讨会
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本研究工作旨在开发一粒径介於0.1mm～20mm微小颗粒之光学线性扫瞄影像分析仪，此自动化机械包括粒径整列机构模组、线性扫瞄(Line Scan)影像撷取模组、影像分析处理模组及电控驱动模组，微小粒径之颗粒经此分析仪将可自勤计算分类，以了解受测物料粒径分布特性，经分析後可得知(待)测物之粒度分布、平均粒径、均匀度、圆形度，球形度等资讯.利用Line Scan CCD影像处理，取像率可逹100％，而且不会有重复和遗失的缺点，解决过去Area scan CCD影像遗漏的间题，来逹到矿石粒子全检，可分析全部颗粒粒径的数据，使功能更臻完善，并透过线性回归方程式补偿提高量测结果之可靠性与准确度，能缩短作业时间、减少人为误差与有效地降低成本.
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