【摘 要】
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扫描测试方法已经广泛应用于集成电路设计、制造领域.为了解决IP(Intelligent Property)内核测试和SOC(System-on-a-Chip)测试中遇到的测试时间和测试功耗的问题,提出了一整套基于扫描测试的SOC测试方法.实验结果表明该结构能够在测试时间和测试功耗约束下提供优化后的测试结构.
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扫描测试方法已经广泛应用于集成电路设计、制造领域.为了解决IP(Intelligent Property)内核测试和SOC(System-on-a-Chip)测试中遇到的测试时间和测试功耗的问题,提出了一整套基于扫描测试的SOC测试方法.实验结果表明该结构能够在测试时间和测试功耗约束下提供优化后的测试结构.
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