花生的营养价值很高,同时还含有蛋白质和脂肪,但由于花生储藏技术的限制,花生的质量会因温度和湿度的不稳定性而变化,产生巨大的经济损失。因此,检验花生储藏时是否霉变具有重要意义。本试验采用电阻抗图谱法,结合花生内部的组织结构,选择相应的等效电路模型,建立检测模型,对发生霉变的花生种子进行研究,并分析花生种子霉变时电阻抗图谱与霉变关系。本文主要研究内容:设计制造了花生电阻抗图谱分析通用夹持装置。该装置以Ag/Ag Cl为电极材料,使用导线把夹持装置与电阻抗检测系统相连,电极与检测样品的接触面积为0.1cm~2。采用单因素试验的方法,确定了在检测电压U为0.5V,频段200Hz-4MHz,定频检测频率f为1MHz,施加压力F为2N的情况下,试验数据稳定性好。对花生长轴、短轴检测数据进行了差异稳定性分析,确定了沿花生长轴测量方式。然后对霉变花生与电参数阻抗(Z),品质因数(Q)、电容(C)、相位角(θ)进行相关性分析,试验结果发现随着花生霉变程度加深,阻抗比其他电参数能更好的研究花生霉变与时间关系。通过植物电阻抗图谱技术,确定了花生的等效电路。采用电阻抗图谱法对三种不同品种花生的霉变过程进行分析,可以明显比对出正常花生和霉变花生区别,并建立MLR检测模型并采用黄曲霉B1检测卡检测法对种子霉变程度进行检验。得出采用电阻抗图谱法进行花生种子霉变的检测的正确率较好。试验结果表明,电阻抗图谱法可以作为一种无损检测方式对霉变花生进行检测,该检测方法方便、快速且无损。可通过电阻抗图谱检测由黄曲霉毒素产生霉变的花生,其结果可靠性较高。