边界扫描测试技术在超大规模集成电路(VLSI)及由其构成系统的测试领域得到了日益广泛的应用。在国外，许多家测试厂商陆续开发了先进的边界扫描测试仪器和与之相配套的测试软件。目前国内在该领域的研究和应用与国外相比还有很大差距，还有很多工作要做。随着边界扫描测试技术应用的深入发展，可以做到不借助于专用的测试仪器，而只使用PC机和测试软件来对带有边界扫描结构的芯片和由它构成的系统进行测试。在开发测试软件的过程中，测试图形生成是测试软件要实现的首要工作，是测试控制、测试响应分析与故障诊断的前提，在整个测试过程中至关重要，这也是本文的主要研究内容。作为测试图形生成的开发基础，本文论述了产生边界扫描测试技术的背景，边界扫描测试技术的应用和发展前景，深入研究了边界扫描测试技术—IEEE1149.1标准，对标准中所定义的测试存取端口和边界扫描测试结构进行了说明。本文针对板级互连测试进行了研究，介绍了有关互连测试的基本理论、互连故障模型，比较了各种测试生成算法，针对已有的被测PCB给出了进行完整性测试和互连测试的详细流程。从目前的研究现状出发，本文提出了由软硬件组成的，基于边界扫描测试技术的测试系统平台的设计思想，论述了测试平台的工作原理。在测试图形自动生成章节中，本文详细地剖析了测试图形生成中所必需的网络表文件和BSDL文件，采用符合国际工业标准的串行向量格式(SVF)描述测试图形，选择故障覆盖率高又易于编程实现的走“1”算法，结合所使用的被测电路板的边界扫描链信息，编程实现了互连测试图形自动生成。最后，本文利用xilinx公司提供的源码包实现了PC机程序playSVF，该程序解释SVF测试图形文件，生成边界扫描测试协议的电平信号，通过PC机的并行口传送测试协议信号，对电路板进行了验证性测试。