射频识别(RFID)技术是一种非接触的自动识别技术,其基本原理是利用射频信号和空间耦合(电感或电磁耦合)传输特性,实现对被识别物体的自动识别。RFID智能卡具有体积小、容量大、寿命长、可重复使用等特点,可支持快速读写、非可视识别、移动识别、多目标识别、定位及长期跟踪管理,具有广阔的应用前途。本文结合国家863重点项目“RFID系统测试技术研究及开放平台建设”,就射频识别系统中智能卡的可靠性预计,可靠性试验以及应用中性能的评价开展了较为深入的研究。本文提出了RFID智能卡可靠性预计方法,制定了RFID智能卡功能模块的可靠性预计模型以及非工作状态下的可靠性预计模型。这样,RFID智能卡研制进程有定量分析结果作为依据,按分配和预计结果有条不紊地进行可靠性设计,避免了因缺乏为实现可靠性、维修性指标而必须采取的技术措施,或因所采取的措施带有很大的盲目性,而造成经济上和时间进度上的重大损失。本文制定出了针对RFID智能卡的可靠性及破坏性物理分析试验项目及方案。可靠性试验项目的制定能够科学,全面的对智能卡的可靠性进行评价;破坏性物理分析试验能够充分暴露所设计的智能卡的缺陷,从而指导我们进行设计的改进,提高智能卡的可靠性。本文详细分析了智能卡实际应用中的读取可靠性问题。针对智能卡实际应用的工作频率、作用距离、方向性、移动速度、防冲突性、受金属物质影响、卡的重叠进行了深入研究,特别是针对860~960MH智能卡防冲突算法进行了详细的分析及比较。通过研究提出了实际使用中的测试方法。通过这些测试方法,来评价智能卡的性能。用户根据实际应用中的环境和要求,选择合适的智能卡,来满足RFID系统的要求,保证整个系统有较高的读取可靠性。