液晶显示器件现在已经普遍应用于各行各业，向列相液晶由于价格低廉、技术成熟而被广泛使用。对于TN模式来说液晶盒盒厚和扭曲角是两个重要的参数，因为他们密切关系到液晶器件的光学性能。比如，在液晶显示器的显示性能中，响应速度、对比度、视角等与液晶层的厚度有密切关系：而液晶器件的扭曲角度是影响超扭曲向列相液晶灰度特性的一个重要因素，再者扭曲角的测量是测量方位锚定能的必要条件。所以说，无论是在工业制造中还是基础学习中快速准确的测量盒厚及扭曲角都是很重要的。　　 本文围绕液晶盒盒厚和扭曲角的测试进行研究，提出了一种新的Stokes测量法，该方法设备和操作都比较简单，测试的精确度良好。本文从传统液晶测试方法和Stokes测试法的理论基础出发，提出了一种新的Stokes矢量法用于测试液晶盒盒厚和扭曲角的光路结构，根据此光路结构搭建的测试系统能够测出穿过液晶盒后偏振光的偏振特性，根据偏振光的偏振态来确定液晶盒盒厚和扭曲角。论文中我们利用琼斯矩阵，推导出了被测液晶盒盒厚、扭曲角、光入射面液晶分子指向矢方向、测试光路的起偏器透光轴、波长之间的关系式。我们还制作了几种厚度和扭曲角的液晶盒，用该Stokes法进行测量，并利用Matlab编写了对测试系统得到的结果进行非线性方程组求解的程序，用于液晶盒样品的数据处理，得到的结果进行非线性方程组求解的程序，用于液晶盒样品的数据处理，求得相应的盒厚和扭曲角。测量结果表明这个方法是可行的，并且可以用于小盒厚的测量。　　 在验证该Stokes法的正确性和精确度上，我们用液晶参数仪对液晶盒样品进行了对比测试，测试结果表明本论文提出的Stokes法可以同时测量盒厚和扭曲角，并且精度高于传统方法。论文的最后分析了该Stokes法的测量误差，主要有实验系统(光学元器件)的固有误差和实验过程中产生的实验误差。分析讨论了测量误差的来源及提高测量精确度的方法。