芯片在出厂前都必须经过ATE(自动测试设备)测试,ATE测试是否可靠会直接影响到出厂芯片的良率。为了验证ATE程序的可靠性,各芯片设计及制造厂商特别在测试环节里加入Bench测试,即搭建一个与芯片真实应用环境相似的测试平台,应用各种仪器对芯片进行测试,这种测试一般由人力手工完成。当芯片数量较大时,为了减少手工测试的工作量,设计一款自动化的芯片测试平台是很有必要的。LabVIEW这一虚拟仪器的诞生,极大推动了测试技术和测试方法的进步。本文针对凹凸公司的一款电源管理类芯片,搭建了基于LabVIEW的芯片自动化测试平台。(1)在分析电源管理类芯片性能的基础上,根据测试需求设计了兼容性强的通用测试电路板及各种接口；还设计了专门针对各款芯片的专用测试板。完成了两块测试板的制作、连接和调试。(2)采用C语言编写了MCU的通讯程序,并打包成动态链接库供LabVIEW调用,利网站上发布的LabVIEW驱动程序,成功实现了PC机对测试仪器的控制。(3)采用最小二乘法校正和提升了模拟电源的性能。并将C语言打包成动态链接库供LabVIEW调用,实现了图形化编程语言和文本编程语言的结合。(4)采用LabVIEW的数字滤波技术对采集的数字信号进行滤波,成功消除了数据采集卡受到的工频干扰,避免了对芯片状态的误判。(5)根据各测试仪器和硬件电路的特性和芯片测试的需要,编写并优化了芯片功能测试程序,最后将硬件平台和LabVIEW程序结合起来进行调试,完成了自动化芯片测试平台的搭建。该芯片测试平台具有操作简便、可靠性和有效性高的特点。