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随着电子工业的飞速发展，FPGA由于兼顾高性能及灵活性在数字系统设计及ASIC原型前端设计中得到广泛的应用。在空间领域，传统的反熔丝FPGA由于不可重复编程以及成本高昂等原因逐渐被SRAM型FPGA所代替。但SRAM型FPGA天生对单粒子的敏感性限制了其本身的应用，如何对SRAM型FPGA的单粒子效应进行评估以及抗辐射加固成为一个热点研究。在研究SRAM型FPGA的配置存储器结构及配置结构的基础上，发现对FPGA配置文件中的帧数据进行0/1翻转可以实现配置存储器的人为翻转，从而来仿真FPGA的SEU效应，这就为SRAM型FPGA的故障注入提供了理论基础。本文基于此设计了一个对SRAM型FPGA的故障注入系统。本文设计的故障注入系统是基于部分重构技术实现的，充分利用Xilinx公司开发工具EDK的支持。硬件部分包含PowerPC处理器、外部存储器、ICAP、测试电路IP核，其中ICAP是FPGA的内部端口，可以直接对配置存储器进行读写操作。软件部分基于部分重构技术来实现故障注入过程，利用ICAP的读/修改/写机制来完成一次故障注入，通过比较测试电路的黄金运行结果和注入故障后的测试结果，得到故障注入结果。最后选取了三个FPGA的典型设计，利用故障注入系统进行故障注入测试，并对它们进行完全三模冗余加固后，再进行故障注入测试，验证了设计的故障注入系统的有效性。