随着整个半导体行业的高速发展,数字集成电路也取得了很大发展。芯片的集成度不断提高,功能更强大,速度更快。数字集成电路芯片的应用范围几乎覆盖了目前所有的电子设备:计算机、家用电器、数码电子、自动化、通信、航天等诸多产业中的设备,受芯片制造工艺的限制、工作使用条件以及芯片寿命等影响,故障的产生是不可避免的,所以数字集成电路的性能保障越来越显得重要。测试是数字集成电路性能保障的重要手段,也是整个芯片流程中成本最高、技术难度最大的一个环节;随着科技的飞速发展以及市场的激烈竞争,芯片市场寿命相对于其开发周期变得愈来愈短,测试对芯片的上市时间和开发周期将会有更大的影响,因此数字集成电路测试仪的研发至关重要,数字集成电路测试仪的正常工作离不开各种通信接口[1],通信接口的设计好坏直接决定了测试仪能否顺利完成测试任务。本文主要研究了数字集成电路测试仪通信接口的设计,测试仪的通信接口包括分选机接口、测试板接口、操作面板接口、系统总线接口、串口;测试仪与分选机、测试板之间的接口通信,主要采用灵活性较高的FPGA来实现。用FPGA进行数字逻辑设计,可以方便的对内部电路进行修改,并编写测试文件对设计进行仿真,通过仿真结果再对设计进行完善;然后根据硬件逻辑电路编写驱动程序;操作面板接口根据面板上的HD7279电路进行控制;系统总线接口用于ARM核心板与各功能电路板、上位计算机之间的通信;串口用于辅助ARM核心板调试。本文的主要工作内容如下:首先介绍了数字集成电路及其测试仪的重要性与研究状况,对测试仪工作原理也做了说明,分析了数字集成电路测试仪通信接口的重要性和各部分接口的情况;然后讲述了数字集成电路测试仪通信接口板的设计方案;第三章主要讲述了分选机接口硬件电路和FPGA逻辑的各部分功能,以及对FPGA逻辑的仿真;第四章介绍了分选机接口驱动程序的设计;第五章讲述了系统内部通信接口的设计;最后对通信接口板的调试结果做了分析,本文所设计的通信接口板经反复调试,传输速度快,工作稳定,较好的满足了测试系统的要求,确保了整个数字集成电路测试系统的可靠通信。