γ能谱分析是放射性分析与识别的一种重要技术手段,在核安全检测、核裁军中核武器核查以及航天航空等诸多领域都有广泛应用。然而,由环境温度变化导致的γ能谱漂移,常常给NaI（Tl）γ能谱分析和识别带来较大困难。为提高NaI（Tl）γ能谱分析精度和识别置信度,须进行稳谱或谱漂移修正。本文提出了基于系统变换的NaI（Tl）γ能谱分时动态稳谱技术。首先,将长时间测量的γ能谱看成是多个短时间测量的分时谱的线性叠加;其次,利用随机信号系统变换的方法反演出分时谱在探测器内的理论沉积γ能谱,即分时修正谱;最后,对分时修正谱进行线性叠加得到稳谱修正谱,从而达到稳谱目的。分别采用Monte Carlo模拟技术和实验测量法对稳谱技术的可行性和有效性进行了研究。主要研究内容如下:首先,通过模拟或实验测量获得不同漂移程度的分时谱;然后,利用系统变换方法对分时谱进行谱漂移修正;最后,利用分时动态稳谱技术对分时修正谱进行线性叠加得到稳谱修正谱,并与标准谱进行对比和分析。结果显示,在模拟实验中,稳谱前,叠加谱中峰位的相对漂移为0.00%,峰高的最大相对偏差为60.97%,半宽度的最大相对偏差则高达173.03%;稳谱后,稳谱修正谱峰位的最大相对漂移为0.01%,峰高、半宽度的最大相对偏差均为0.00%。在实验测量研究中,稳谱前,叠加谱中峰位的最大相对漂移为2.44%,峰高的最大相对偏差为16.97%,半宽度的最大相对偏差高达37.99%;稳谱后,稳谱修正谱与标准谱峰位的相对漂移均为0.00%,峰高与半宽度的相对偏差均小于0.50%。研究表明,该技术通过对分时谱的漂移修正和线性叠加,达到了稳谱目的,有效提高了 NaI（Tl）γ能谱的能量分辨率,进一步提高了 NaI（Tl）γ能谱的分析精度和核材料NaI（Tl）γ指纹的识别置信度,进而为扩大NaI（Tl）γ能谱分析技术的应用范围奠定了技术基础。