空间光学系统，特别是空间红外光学系统、低温光学系统以及某些大型空间望远镜，都工作在系统视场外有强烈辐射源(如太阳等)的“恶劣”环境中，这些强烈杂光辐射经过光学系统孔径的衍射，以及结构与光学件表面的散射，到达系统像面形成杂光。随着空间光学技术的以及多种类光电探测器件技术的飞跃发展，杂光的抑制与分析被重新提高到了一个重要的地位，系统杂光抑制的成功与否，甚至成了某些空间环境使用的光学系统性能进一步提高的“瓶颈”。因此，对系统杂光的产生和传输、分析和计算、杂光抑制措施的采用与遮光系统的设计、材料表面BRDF以及系统杂光PST的定量测试等方面进行深入研究，是非常有必要的。本文首先介绍了光学系统杂光的抑制措施，从光辐射在两个表面传递的基本能量传输方程出发，指出影响辐射能量传输的三个因子：双向反射分布系数BRDF、投影立体角PSA和入射辐射通量。并据此，提出了从系统像面出发，向前搜寻杂光传输的关键和间接表面，并设法移除或减少的遮光系统设计思路和方法。同时，文章具体研究了遮光罩和叶片结构在杂光抑制中特殊作用，以及不同光阑对系统散射和衍射杂光的抑制作用。表示光学系统杂光抑制能力的点源透过率PST和材料表面散射特性的双向反射分布系数BRDF，这两个物理概念是光学系统杂光分析与计算的基础。本文介绍了两种系统杂光计算方法，各自给出了计算实例。采用公式法计算系统杂光，精度虽然稍差，却可清楚地了解系统七种类型杂光的成因和影响，便于有针对性采取抑制措施，优化遮光设计。精确的杂光分析计算还得“改进”的蒙特-卡洛法，它需要追迹足够多数量的光线，建立的三维模型的物理特性与实际符合，才能获得符合统计规律的计算结果。材料表面的BRDF，与波段、入射及出射角都有关系，几乎不可能用解析表达式表示，只能通过实验手段测试获得。本文在长波红外波段和可见波段，在实验室建立了材料表面BRDF的专门测试装置，测得了可见和长波红外波段两个光学镜面和5片“黑色”吸收涂层的BRDF的空间分布值。光学系统杂光指标PST的测量，包含了系统各种安装误差的影响，体现了系统杂光抑制的真实水平。本文在实验室，建立了光学系统杂光指标PST的专用测量装置。采用锁相放大器的调制检测法，成功地抑制了背景噪声，提取出了非常微弱的杂光信号，测得了口径D=180mm的卡塞格林系统的红外和可见杂光PST。在国内第一次成功获得光学系统PST的可靠测试结果。