光泽度作为一个重要衡量物体表面光滑程度的重要指标,有着广泛的应用。测量光泽度的仪器--光泽计,一般有20°、60°和85°三种不同角度的光源以满足不同应用场合的需要。但目前国内的光泽计存在一个缺陷,即在85°光源时,测量结果不是很准确的情况。为了解决目前光泽计在85°入射光,其测量结果不精确的问题,设计了一种基于ARM Cortex-M3处理器的光泽计的实现方法。该设计采用高亮度的发光二极管作为光源,以20°、60°和85°三种角度分别对被测物体进行照射,从而使其适应于不同的场合。造成850入射光测量结果不精确的主要原因是85°入射光与被测物体只有5°的夹角,入射光光源安装上有困难。通过变更入射光初始位置,经过一次反射后得到85°光源解决了此问题,保证了测量精度。选用ARM Cortex-M3处理芯片的原因是,Cortex-M3ARM芯片不仅价格低廉,而且功耗很低,有着广阔的市场前景。同时,该系列的芯片大部分附带USB功能,能够满足我们便携传输数据的需要。