数字电路测试主要有电压测试和电流测试两种方法。关于电压测试的研究已日趋完善并在工业中得到了广泛的应用。电流测试方法可作为电压测试方法的补充手段，有效地提高电路的可靠性。瞬态电流测试方法可以测试一些其他测试方法无法检测的故障，进一步提高故障覆盖率。 本文采用启发式搜索的方法，基于对FAN算法的分析，在不考虑冒险的情况下对于CMOS电路中的开路故障，探讨了利用FAN算法进行瞬态电流测试生成的可能性。文中定义了三种不同的D前沿，并将测试生成分为三个部分：1、激活故障，2、使无故障电路和故障电路的瞬态电流差别最大化，3、减少旁路的影响。实验结果说明，在不考虑冒险的情况下，将FAN算法应用于瞬态电流测试产生是可行的。 由于制造设备本身存在微小误差，具体门的延时并不相同，而是在一定范围内变化，引起波形变化的时间不确定。本文采用一个四维立方（v，f，h₁，h₀）来表示信号线ι在某一时间段内的波形并给出了所有门电路的输出立方计算方法。利用测试生成的向量对，采用瞬态电流测试方法对开路故障进行并发故障模拟。实验结果证明了瞬态电流测试方法的可行性和有效性。最后，把一个输入向量对看成两个独立的向量，分别采用稳态电流测试方法和电压测试方法模拟桥接故障的晶体管级故障和桥接故障的门级故障及固定故障。