瞬态电流测试相关论文
基于对FAN算法的分析,本文在不考虑冒险的情况下对于CMOS电路中的开路故障,探讨了利用FAN算法进行瞬态电流测试产生的可能性.文中......
传统的基于电压测试的测试方法已得到了广泛的应用,但这种方法仍然无法有效地检测某些故障。作为电压测试方法的补充,电流测试方法......
瞬态电流(IDDT)测试技术自20世纪90年代提出以来受到了人们越来越多的关注.本文提出并设计了一种用于CMOS电路瞬态电流测试的片外I......
CMOS集成电路瞬态电流(IDDT)测试技术自20世纪90年代提出以来,作为电压测试及静态电流(IDDQ)测试技术的必要补充,受到了人们的广泛......
检测CMOS电路中的开路故障通常需要使用测试向量对。内建自测试(BIST)作为一种有效的测试技术可以大大降低测试开销。本文采用一种......
瞬态电流测试（IDDT Testing）作为传统电压测试和稳态电流测试（IDDQ Testing）方法的一个补充，越来越受到研究领域和工业界的关注。针对不......
通过施加一个测试向量对，瞬态电流测试可以检测出CMOS数字电路中的某些故障，这些故障通常（例如开路故障）不能被传统的电压测试和稳态电......
内建自测试（BIST）是一种有效降低测试开销的技术，在瞬态电流测试中得到了应用。本文给出了一种新型的瞬态电流测试BIST测试生成器设计......
在瞬态电流测试中，即使是同一设计的芯片，由于制作工艺参数的不稳定性，在输入相同的测试向量对时，会产生不同的瞬态电流，这就可能减小故......
CMOS电路瞬态电流（IDDT）测试技术，在超高速高可靠芯片故障诊断领域有着良好的应用前景。由于芯片的集成度和工作速度越来越高，IDDT迅速......
在不考虑冒险的情况下,对于CMOS电路中的开路故障,探讨了利用FAN算法进行瞬态电流测试产生的可能性.定义了三种不同的D前沿,并将测......
全速电流测试是一种新的电路测试方法，现以AT89C51微处理器为例，说明用全速电流测试进行微处理器测试的可能性．在实验中，让微处理器重......
数字电路中的冗余故障是不能被传统的电压测试方法（Voltage Testing）稳态电流测试方法（IDDQ Test-ing）检测出来的。根据瞬态电流测试（ID......
随着集成电路设计与加工技术的飞速发展,超大规模集成电路的测试成为一个越来越困难的问题,测试和可测试性设计的理论与技术已经成......
集成电路测试技术是生产高性能集成电路的关键。由于CMOS集成电路中的故障和制造缺陷是多种多样的，其中有些故障既不能被电压测试也......
瞬态电流测试方法主要通过故障状态下的瞬态电流与正常状态下的瞬态电流的差别来检测故障。在保证激活故障的条件下,若无故障电路......
随着集成电路不断复杂化,电路中可能存在的故障数目逐渐增加,用于检测这些故障的测试向量也成倍增长,如何在尽可能小的硬件开销前......
