随着计算机技术和硅片制造技术的不断发展，人类已经迈进了一个高速发展的信息社会。信息社会中各种智能控制和高速信息的交互都离不开程序代码和基本数据的存储，故而存储器的存在是必要和必须的，而且还在不断向更低功耗、更快存取速率、更大容量、更小面积发展。然而随着集成电路工艺节点的不断推进，存储器芯片在设计和制造过程中出现越来越多的问题，如单元之间的耦合、地址译码故障、芯片电源供应等，这些无不影响着存储器的的可靠性并对存储器测试带来了巨大挑战。　　 存储器技术高速发展离不开芯片测试技术的支持，没有测试就没有真正意义上的芯片设计。但不是所有的存储器设计公司和研究机构都有自动测试机台。为了节省资金成本和时间成本，也为了测试能够更方便高效地进行，本文开发了一款以半定制专用FPGA集成电路芯片为核心针对存储器芯片的验证系统。将FPGA芯片作为存储器验证系统的核心不仅可以产生测试所需要的精确时序信号，而且FPGA开发中软件配置硬件的特点也使得测试算法的开发具有更大的灵活性。　　 本文一方面着重讨论了非挥发性存储器的架构和存储器芯片的测试方法，另一方面详细论述了存储器验证系统的硬件电路设计和配置程序的开发。以信号完整性为诉求，本论文严谨地设计了系统的PCB板硬件部分。在FPGA配置程序的开发中，本文按照Top-Down的思想对配置程序进行了层次划分，并分别仿真和验证，保证了程序开发的可控性和可测试性。　　 在成功开发了存储器验证系统之后，使用其对本所研发的基于65nm NORFLASH工艺和标准0.35μm CMOS工艺流片的1G NOR FLASH存储器芯片进行了全面的验证测试。测试结果显示，本系统不仅可以有效满足各类存储芯片基本功能验证需求，而且可以结合不同算法对芯片单元耦合、金属线间串扰、阵列读写延迟等方面进行测试验证。最后，本文在系统功能和测试算法两个方面对进一步改进存储器验证系统提出了建议。