全光通信是未来通信的发展趋势，密集波分复用（DWDM）技术是光通信中的关键技术，而复用器/解复用器（MUX/DMUX）又是DWDM系统中的关键器件。阵列波导光栅（AWG）作为MUX/DMUX中的佼佼者，重要性自不必说。然而，涉及AWG测试及可靠性方面的研究十分有限，本文的研究正好填补了这一空白。　　本文研究内容包括以下几个方面：　　首先，从PDL产生的原理出发，对目前生产测试上普遍使用的计算方法做了详细介绍，结合公司目前使用的四态法即Mueller矩阵法，使用现有的测试系统，测量了1×32通道系列AWG产品。由得到的原始数据，计算出了第一通道的偏振相关损耗（PDL）值。随后，全面分析了该测试系统，计算了各个相关器件对PDL测试指标的影响。在此基础上对系统进行了优化、改进，目前已经应用于生产实践，有效地提高了测试AWG产品PDL值的准确性。　　其次对AWG器件的可靠性实验（温度循环实验、高温高湿实验）进行了研究。运用EXCEL工具，对其实验数据进行处理，根据生成图像判定产品的可靠性。还针对温度循环实验中光源不稳定的现象，提出了提高光源稳定性的实验方案，就是在光路中光源后面加入一光学衰减器（Agilent-HA9），当光源不稳定的时候，对光源输出功率做动态补偿，从而得到稳定输出的光功率。实验证实，其稳定精度可达到0.1dB。最后，选取3个AWG产品做了高温高湿实验，经过168小时和336小时两次试验后,AWG芯片的性能发生了很明显的变化。给出了实验前后的数据、参数比较图,为我们分析产品的可靠性提供了强有力的依据。