EBIT装置，即电子束离子阱(electron beam ion trap)，是近年来国际上新发展的一种离子束实验装置，可以产生几乎静止的高电荷态重离子。它是研究原子物理、等离子体物理等学科的一种新的重要工具，对基础学科研究及战略高技术研究都有重要的意义。目前，国际上共有八台低温EBIT装置，上海EBIT装置是我国首台主要依靠国内力量研制的低温超导EBIT装置。　　 本课题的工作是以上海EBIT装置控制系统中的动态控制为研究对象，设计一个基于FPGA的PCI总线控制卡，实现EBIT装置的离子注入引出过程，以便开展各种物理实验。课题设计分为软件和硬件两个主要部分。　　 在硬件设计方面，设计EBIT电源动态控制电路模块和数据缓存模块。动态控制电路模块设计中，把整个控制电路分为三个部分：离子的注入和引出、MEVVA离子源的触发、电子束能量的扫描，并保证它们之间能协调动作。数据缓冲模块主要作用是使PCI总线传输过来的控制参数能够同步地传送到控制电路模块中。设计使用Altera公司的Ouartus II5.0软件，以VHDL语言作为FPGA设计的编程语言：并使用Ouartus II自带的波形仿真工具进行仿真，仿真结果符合EBIT装置的动态控制要求。　　 课题开发了基于Windows2000 WDM驱动程序和应用程序。Windows2000操作系统具有成熟的架构体系，适用于对安全性和可靠性要求较高的工业控制系统。课题研究了WDM驱动程序的原理和结构，讨论用微软DriverWorks工具开发PCI驱动程序的一般过程。围绕PCI设备初始化、配置空间访问、I/O操作、内存读写等功能模块进行PCI驱动程序的编写和调试。　　 使用现场可编程门阵列器件所设计的EBIT装置动态控制电路具有操作方便、控制灵活性较强、控制精度高等优点；用户可以通过现场编程和配置来改变其内部连接和元件参数，从而能够实时地更改控制参数，以满足EBIT装置的实验需要。