电涡流缺陷成像技术,具有可视性好,能够直观获取缺陷轮廓形状信息,利于定量化描述缺陷参数等优势,是电涡流无损检测发展的一个重要趋势。本文针对电涡流缺陷成像及参数估计方法,对缺陷信息提取基础问题、C扫描缺陷成像方法、非扫描阵列GMR缺陷成像方法、缺陷参数信息估计等方面进行研究,主要研究内容如下:研究了缺陷信息提取基础问题。本文通过理论分析和仿真研究,得出垂直于被测试件表面的检测方向对缺陷边缘表征更为直观、准确。研究了相互正交激励下两方向检测信号融合方法,通过提取较大值的融合方法获取缺陷完整轮廓。研究了C扫描缺陷成像及其参数估计方法。对C扫描使用的矩形激励线圈进行仿真优化,得出线圈参数优化公式,并依此设计了探头。采用基于GMR传感器的电涡流检测平台进行C扫描实验,获取C扫描缺陷图像。结合图像处理方法对其图像进行缺陷参数估计,得出处理后图像可更加直观显示缺陷大小形状,定量化描述更为精确。研究了非扫描缺陷成像。针对缺陷长时监测问题,设计了基于GMR阵列的正交激励矩形线圈非扫描探头,并利用其进行了非扫描实验。针对检测点过少的问题,提出采用图像超分辨率重建技术,对检测数据进行扩充,并对扩充数据进行误差分析。对非扫描数据进行重建,使得所得数据更加直观,更利于量化描述。研究了缺陷深度信息估计方法。推导了矩形线圈激励下理想缺陷磁场正问题以及缺陷相位正问题。建立理想缺陷模型,并推导了矩形激励线圈两种放置方式下无缺陷激励磁场计算公式以及平板导体中的并矢格林函数。研究了影响电涡流无损检测信号相位的因素,并对涡流检测中的相位滞后进行了理论推导。针对表面缺陷及亚表面缺陷,分别采用导体表面磁场信息及检测信号相位信息进行逆问题迭代求解的方式,估计缺陷深度信息,并给出了计算步骤。