随着集成电路设计与加工技术的飞速发展,电路系统的规模和复杂性急剧上升,超大规模集成电路(VLSI)的测试已经成为一个越来越困难的问题,测试和可测试性设计的理论与技术已经成为VLSI领域中的一个重要研究方向,在理论和实践方面都有十分突出的价值。本文从数字电路的桥接故障入手,分析了桥接故障的特点,以及常用的测试诊断方法,结合现有理论中的各种故障模拟方法,提出了几种针对桥接故障的测试生成方法以及测试集的优化方法,可以达到缩减测试集的大小,提高诊断的故障覆盖率的目的。文中提出的桥接故障的测试生成算法有:利用BDD电路来生成完整的测试集的确定性测试生成方法;根据电路中门的类型来确定输入的伪随机测试生成方法。此外,还提出了对测试集进行排序缩减的方法可以有效地精简测试集达到优化的目的。文章中结合ISCAS 85测试电路来进行实验验证以上的测试生成算法和测试集优化方法。最后,我们对文中提出的桥接故障测试生成的方法进行了总结分析,显示了这些算法的有效性,并对未来的工作做了进一步展望。