芯片的测试是保障芯片的成品率和节约成本的重要手段，随着集成电路芯片的复杂度、集成度不断提高，芯片的测试变得越来越困难，因此面向测试的设计在集成电路设计中的地位变得越来越重要。可测性设计是当前为了解决测试问题而得到不断发展的设计方法学，旨在增加额外的电路来使测试变得容易，并尽量使得测试的覆盖面广。为了保证测试电路的插入对电路的原有功能无负面影响，必须进行形式验证来确保测试电路插入前后电路在功能上是一致的。本文研究了可测性设计方法，并对项目组开发的视频格式转换芯片进行了可测性设计。视频格式转换芯片是具有内部逻辑与嵌入式存储器的系统。根据逻辑划分，本文以从底向上的设计方法，芯片的内部逻辑采用基于EDT技术的扫描路径设计方法，在内部逻辑中插入扫描链，通过预置节点状态，移位，捕获等操作，完成对内部节点的控制与观测，并通过在核心逻辑外围设计附加的解压缩和压缩电路，使得测试图形可以被压缩加密，缩小了测试图形体积。存储器的测试设计采用存储器内建自测试，根据提出的具有高故障覆盖率的March23N算法，设计了BIST控制器以及响应分析比较器。BIST控制器设计的核心是算法设计，针对目前常规的March算法不能覆盖的故障，提出了一种新的能够覆盖所有故障的March算法，该算法具有对称性和高覆盖率。在芯片的顶层设计边界扫描逻辑，与内部扫描链和存储器相连接，并设计指令寄存器和指令，通过指令控制测试的进行，最终形成一套完整的测试系统。仿真验证表明，本文设计的内部扫描测试能够对芯片达到98.28%的测试覆盖率，达到了设计要求，同时本文设计的基于March23N算法BIST控制器功能正确，能够检测出常规March算法无法检测出的故障，具有高的故障覆盖率。本文同时对于测试电路进行了形式验证，结果表明电路的原有系统功能未受影响。