功率LED驱动电源高温通断及COB温度循环可靠性研究

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LED是人类文明历程上的一个重要的发明,是追求节能减排、低碳环保的有力保障。由于寿命长、效率高、环保、可靠性高、亮度高等优点,LED照明已经广泛应用于照明显示等领域。在未来将会进一步代替传统照明方式,因此市场上升空间还很大,人们对LED照明关注的热度也不会减弱。与之而来的是不可忽视的可靠性问题。本文针对路灯照明系统对其中的LED驱动电源和COB光源进行可靠性研究。LED因不能直接使用市电所以必须有专门的驱动电源为其供电,因此LED驱动电源质量的好坏不仅直接影响整个照明系统的使用情况,还会给灯珠带来额外的应力。COB是高功率和小尺寸发展的结果,但散热问题也随之而来,如何有效地将热量及时散发出去是一个难题。本文针对电解电容在LED驱动电源失效率高和COB焊料层可靠性的问题,设计了LED驱动电源高温通断可靠性实验和COB温度循环可靠性实验。主要有以下工作:一、LED驱动电源主要包括EMC滤波、PFC转换、PWM控制和DC/DC变换模块,其中最薄弱的环节是DC/DC变换模块中的滤波电解电容。电解电容在长期的工作中电解液会损耗,进而导致电容量下降,滤波功能退化,出现失效现象。LED驱动电源一直缺乏统一的标准,这给驱动电源的考核带来了难题。本论文在实验过程中对LED驱动电源重要参数进行记录,得出变化情况,从整体上对驱动电源做出评估。实验后针对重点部位解剖驱动电源,取出电解电容,对电解电容重要参数进行考核,分析出主要退化原因,对后续的研究具有重要意义。二、对于COB封装形式的LED进行了不同温升和不同功率的退化对比研究。给实验样品施加循环温度应力来进行加速实验,用不同的电流控制温升,每组实验进行了12000次左右的循环。实验循环过程中对光通量和热阻进行了测量,发现光通量降低,热阻增加。实验后采用非破坏性的结构函数方法确定了退化的部位,实验后用X射线、超声波测量和SEM对内部结构进行验证,发现芯片外部的引线有烧毁的现象,芯片和热沉之间的焊料层出现空洞。这与结构函数方法得出的结论一致。引线的断裂是光通量急剧下降的原因,焊料层出现的空洞是热阻增加的原因。
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