本论文采用密度泛函理论结合非平衡格林函数的方法，研究了由表面重构以及吸附原子团簇所引起的界面构形对分子器件输运性质的影响。主要内容如下:　　1、C60分子引起的Cu(111)面的重构对电子输运性质的影响。实验上发现，在一定的条件下，C60在Cu(111)面上生长时，会使得4×4的金属表面单胞出现7个原子空洞的重构结构。对于C60分子和Cu(111)块体构建的分子器件，考虑到分子-电极接触界面的重构，理论模拟结果发现电导增大了，小偏压范围内电流是完整表面结构的1.5倍。我们的结果表明界面重构增强了分子器件的导电性能。　　2、吸附原子团簇对输运性质的影响。实验上制备分子器件时，尤其在自组装过程中，电极表面还会出现吸附原子团簇乃至岛状结构等等。我们采用C60分子与Ni(111)块体电极构建两端体系，研究了两端电极磁矩平行时，随着团簇原子个数N的增多，自旋电子输运性质的变化。结果表明，同一偏压下，随着N的增大，电流逐渐增大，其自旋极化度逐渐减小。显然团簇尺寸的大小，对自旋输运性质具有一定的影响。