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晶体振荡器是一种常用的频率信号源，能够提供高精确度和高稳定度的输出信号，可广泛应用于精密电子设备、无线通信和雷达等领域。然而随着现代电子技术的不断发展，晶体振荡器的相位噪声往往会成为限制系统性能提高的主要因素。因此本文从实际需要出发，并结合计算机辅助设计手段来完成高稳低相位噪声振荡器的设计。实际中我们常常希望能够通过计算机仿真的方式来预测振荡器的相位噪声指标，以便为实用振荡电路设计提供指导。本文首先介绍了晶体振荡器的工作原理和常用的一些振荡电路结构，随后从Leeson经验数学模型出发，分析了高Q晶体振荡器相位噪声的特性及其在电路中的形成规律，并结合仿真和实际相位噪声结果的差异，深入研究了影响振荡器相位噪声的晶体管闪变噪声器件参数A f、K f及其提取方法。最后以100MHz巴特勒共基串联低噪声振荡器电路设计为例，采用Agilent ADS（先进设计系统）进行谐波平衡仿真得出电路的相位噪声曲线图，并利用提取到的噪声参数将其优化，经过反复设计得到相位噪声指标较好的实用振荡电路。根据仿真结果做出实际的电路，通过Agilent E5052B相位噪声测量系统得到实测的相位噪声曲线。最终的测试结果显示该振荡器的输出噪声水平达到-124.0dBc/Hz@100Hz，-153.4dBc/Hz@1kHz，满足低噪声设计的要求。经过比较仿真和实测结果，可以看出，考虑了器件参数影响的相位噪声仿真曲线更好的符合了Leeson噪声模型。