本论文基于中科院近代物理研究所320kV高电荷态离子综合研究平台上搭建的反应显微成像谱仪，研究了40keVHe2+离子分别与氦原子、氢气分子碰撞的态选择单电子俘获过程，并将这两个体系的结果进行了对比分析。　　 结果表明，对于这两个碰撞体系，在同等入射能量40keV下，单电子俘获均以L壳层俘获为主。对于He2++He体系，K壳层俘获次之，转移激发过程在实验中也能观测到;对于He2++H2体系，K壳层俘获的截面却非常小，而且由于没有进行相关的符合测量，转移激发过程并没有发现。　　 角分布的研究表明，对于He2++He体系，小角度范围内出射的散射离子主要来源于基态俘获反应道中，大角度的散射离子主要来自于激发态俘获反应的贡献。对于He2++H2体系，角分布的范围比He2++He体系的范围宽，而且在整个出射角范围内，散射离子主要来源于激发态俘获。除了He2++H2体系的基态俘获反应道，我们所研究的两个碰撞体系的其它反应道的角分布均出现了振荡结构，有人用分子轨道干涉理论解释了该振荡。论文中用He2+离子在He原子上发生夫琅和费圆孔衍射的理论成功解释了He2++He体系基态俘获反应中角分布的振荡现象。