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该文主要讨论了I-V法阻抗测试方法.文中先简要地介绍了几种常用的阻抗测试方法 ,在分析了I-V法阻抗测试的基本原理的基础上,着重讨论了激励信号源的产生、矢量信号 的测试.文中完整的讨论了基于PC ISA总线的阻抗测试卡软、硬件设计原理.硬件设计中采用FPGA做逻辑控制,并在其中实现了信号源所需ROM、信号采集所需的RAM;用两片8Bit的D/A转换器实现DDS频率合成;用16Bit的A/D转换器做数据采集;用两片AD509作为接口转换开 关,实现多量程切换.软件设计配合该卡的工作,详细讨论了关于数字鉴相、校准的理论算法;提供了软件各模块的函数及调用结构.