低相位噪声频率源有助于提高通信、雷达等系统的性能指标，而微波/毫米波频段的低相位噪声频率源对测量系统也提出了较高要求。本文将搭建微波频段鉴频法相位噪声测量系统，并对影响测量系统性能的各个参数进行分析研究。　　本文首先介绍频率源相位噪声的概念和各种测量方法，并对各自的优缺点进行分析，最终选用鉴频法并搭建相位噪声测量系统。本文以鉴频法频率源相位噪声测量系统基本原理为依据，合理分配系统中各个模块的指标，并对系统测量的误差进行修正。采用搭建的相位噪声测量系统对Agilent信号源8257D在X波段输出信号的相位噪声进行测量，测量结果典型值如下:频偏载波100Hz、1kHz、10kHz、100kHz处的相位噪声分别为-59dBc/Hz、-88dBc/Hz、-104dBc/Hz及-109dBc/Hz。通过将测量结果与仪器标称指标进行对比发现:本文所搭建的测量系统在偏离载波1kHz以内有一定的差异，而偏离载波较远的频点较为吻合。分析认为，延迟线延迟时间不足导致系统灵敏度降低，从而使得载波近端的相位噪声测量结果出现误差。　　高性能模拟移相器是鉴频法相位噪声测量系统的关键模块，本文将研究肖特基变容二极管移相器的设计方法，并研制了一款工作频率为17GHz模拟移相器，为更高频段相位噪声测量系统的搭建奠定了基础。测试结果表明，该移相器移相范围大于310°，在所有移相范围内，回波损耗大于17dB，插入损耗小于7dB。