本论文的研究重点是数字集成电路设计中的验证技术。随着集成电路技术的高速发展,芯片设计的规模越来越大,功能越来越复杂,导致在电路设计阶段设计缺陷出现的可能性越来越高,于是对验证的要求越来越高。并且现在芯片的应用领域越来越广泛,对设计安全性的要求也越来越高,设计漏洞的出现可能会造成非常严重的后果,验证的充分性也显得尤为重要。市场对芯片产品更新换代的要求也越来越快,而在大规模集成电路开发的前端设计流程中,验证工作已经占到了总工作量的百分之七十左右。如何在保证验证充分性的前提下,提高验证效率成为集成电路设计开发中的瓶颈。找到高效、可行的验证方法非常重要。本文在详细对比分析了传统的定向验证方法、带约束的随机化激励验证方法以及基于覆盖率驱动的验证方法的基础上,针对当前验证工作面临的完备性、可重用性、可靠性和效率等方面的挑战,结合基于功能覆盖率驱动的验证方法和OVM验证方法学,设计实现了功能覆盖率驱动器组件。论文所设计的功能覆盖率驱动组件实现了功能覆盖率的动态自动化分析,可根据分析结果指导验证平台中的序列产生器产生有针对性的测试激励,并易于集成到OVM架构的验证环境中。该模块基于功能覆盖率驱动的验证方法,实现了验证的完备性;基于OVM验证方法学和System Verilog语言,模块化实现了设计内容及高度的可重用性;设计了自动化的实现手段,减少了人为参与过程,提高了验证的可靠性;以反馈方式调控验证环境中随机测试激励的生成,减少了重复性验证行为,加速了功能覆盖率收敛,提高了验证效率。同时,该功能覆盖率模块封装成一个独立功能模块,易于集成到不同的验证环境,提升了可移植性。论文最后以SOC芯片上Debug&Trace系统中一个典型模块的验证过程为例,将功能覆盖率驱动模块集成到了该模块的OVM验证平台中并进行仿真,通过对比不同时刻功能覆盖率的覆盖情况得到了功能覆盖率的收敛曲线。对比结果表明采用本文所设计的功能覆盖率驱动模块使功能覆盖率的收敛速度提高了50%以上。