利用倍频光栅相移三维面型测量技术实现了物体三维形状变化的测量。传统的光学干涉或全息干涉技术测量物体形状变化时,需要非常稳定的全息实验台和无外界干扰的严苛实验条件,这使得测量只能在实验室条件下进行,限制了测量技术的实际应用范围。使用倍频相移光栅投影技术能够在自然环境中实现物体三维面型变化的测量,使精密的形变测量技术逐步扩大到工业生产和日常生活的各个领域。实验中引入倍频光栅相移技术是为了减少位相展开中产生的累积误差,从而能够提高测量的精确度。而通常,利用了倍频光栅相移技术的实验,在计算过程中为了达到更高的精度和更好的效果需要进行零点标定,而利用倍频光栅相移三维面型测量技术测量物体三维形变的过程中不需要进行零点标定就可以实现同样的计算精度,简化了计算程序的编写。本实验光路简单、对环境要求低、测量时间短、有效减少了分析计算,为测量物体形变提供了一种行之有效的手段。主要研究工作内容如下:1.制作了用于投影的倍频光栅图像。利用编写的计算机程序制作了七组不同空间频率并且每个空间频率都有四个不同相位的正弦光栅图像,按照一定顺序制作成用于投影的幻灯片。2.建立了用于测量物体形变的三维面型测量系统。利用光学投影系统将制作的各个频率、不同相位的光栅幻灯片投影到没有发生形变的物体表面,照相系统采集随物体表面起伏而变形的条纹图像。物体发生形变后,重复上述操作过程。3.编写了利用倍频光栅相移三维面型测量技术测量物体形变的计算程序。利用采集到的条纹图像得到每个像素点的包裹位相,对这些被包裹的位相进行位相展开,获得了物体形变前、后的三维面型相对高度分布信息,通过这两组数据相应的差值得到了物体三维形状变化。