两种新的Z-扫描表征技术

来源 :南京大学 | 被引量 : 0次 | 上传用户:xiaoyao2000
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对材料的非线性系数的测量成为该材料能否走向应用的关键,针对以往测量技术存在的不足,发展了两种新的Z-扫描技术,即狭缝光束Z-扫描和方孔光束Z-扫描。本论文详细介绍了这两种全新的Z-扫描表征技术的原理和实验方法,以及它们同已有Z-扫描技术之间的比较,同时还给出了对实验数据精确处理的方法,主要内容包括以下几个方面: 1.使用狭缝光束Z-扫描技术测量纯折射样品的方法,对于归一化透过率进行了理论研究,并且给出了通过Z-扫描特征曲线的峰谷差Tpv和系统线性透过率S精确计算样品非线性折射系数的函数关系。 2.通过对纯折射时归一化透过率的研究,发现狭缝光束Z-扫描技术的灵敏度和Top-hat光束相近,高于高斯光束。 3.纯折射时狭缝光束Z-扫描特征曲线呈现明显的不对称。该不对称性同高斯光束相同,与Top-ht光束相反。 4.给出了用狭缝光束Z-扫描技术较为精确的估算样品非线性吸收系数的方法,分析了利用这种方法求吸收系数和折射系数的精确度。 5.使用方孔光束Z-扫描技术测量纯折射样品的方法,对于归一化透过率进行了理论研究,并且给出了通过归一化透过率曲线的峰谷差Tpv和系统线性透过率S精确计算样品非线性折射系数的函数关系。 6.通过对纯折射时的归一化透过率的研究,发现方孔光束Z-扫描技术的灵敏度高于Top-hat光束以及高斯光束。 7.纯折射时方孔光束Z-扫描特征曲线在S和φ0不同的时候呈现出不同的非对称性。 8.给出了用方孔光束Z-扫描技术较为精确的估算样品非线性吸收系数的方法,分析了利用该方法求吸收系数和折射系数的精确度。
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