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本文基于金属熔体结构的多度域分形模型，讨论了熔体分形维数与结构的关系，对熔体具有分形特性的机制进行了探讨，引入重标极差分析方法分析径向分布函数，研究熔体内部粒子数的分布特性。研究了熔体三次升降温过程的电阻率温度特性，探讨了熔体电阻率随温度出现异常变化的原因。根据合金熔体X射线衍射实验结果，研究了InSn，InCu熔体内原子团簇在不同温度下的时空特性，In、Sn、In-40wt.%Sn、In-1wt.%Cu及In-20wt.%Cu熔体的结构是一种部分重叠的多度域分形结构，In、Sn、In-40wt.%Sn、In-1wt.%Cu的低维分形维数随着温度的升高而升高。讨论了熔体分形特性与结构的对应关系，认为分形维数的变化时由团簇体内粒子排列变化引起的。温度影响聚集过程，温度越高，粒子热运动动能就越大，结构越密集，使得分形维数增加。根据多度域分形模型，计算了熔体多度域分形过渡区域的原子个数，由模型计算所得数据与实验结果一致，熔体结构中存在有序到无序的过渡区，该区域的变化可能反映了合金熔体特性的变化。推测多度域分形过渡区域与熔体结构特性有关。计算了In、Sn、In-40wt.%Sn三种熔体在短程序度域范围内的双体相关熵，发现分形维数FD和双体相关熵满足严格的线性关系。二者都与原子团簇的排布有密切关系，随着温度的升高，排列越混乱，构型越混乱，进而双体相关熵和分形维数有增加趋势。基于R/S分析，发现InSn熔体短程序内的RDF序列的Hurst指数在0.94和0.97之间，代表RDF序列具有长相关性，InSn熔体短程序范围内的粒子数服从分数布朗运动。短程序范围内径向分布函数Hurst指数较大，表明液态中距参考原子发现其他原子的个数呈较强的持久性，而且原子个数出现的规律呈分数布朗运动。利用直流四电极方法，测量了In-xwt.%Sn(x=0,20,40,49.1,60,80,100)熔体连续三次升降温过程中电阻率随温度的变化情况。三次升降温过程中ρ-T曲线近乎线性，个别温度区间出现异常变化。对于高温区域，升降温过程中ρ-T曲线出现的异常情况归因于熔体的亚稳不均匀现象，对于液相线以上200℃附近ρ-T曲线的异常偏离归因于浓度起伏现象。探讨了InSn体系熔体的电阻率负偏离于线性关系的原因，随着温度的降低，InSn原子团簇逐渐增加，但是团簇变得更加有序，相互作用能降低，电子散射几率降低，在与电子数目减少相竞争时，原子团簇有序占主导地位，故电阻率相对偏低，导致ρ-T曲线出现负偏离现象。讨论了In-xwt.%Sn(x=0,20,40,49.1,60,80,100)熔体的电阻率-成分关系。等温条件下，In-80wt.%Sn合金熔体的电阻率最高，纯In熔体的电阻率最低。计算了InSn体系的在不同温度下的Nordheim系数，Nordheim系数随着温度的升高而升高，Nordheim系数-温度曲线近乎线性关系。