用场离子显微镜和场发射显微镜研究单壁碳纳米管

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该文主要通过场离子显微镜(FIM)研究了单壁碳纳米管(SWCNTs)的端口结构,并研究了同一样品的场发射显微镜(FEM)像和FIM像之间的对应关系.实验所用的仪器是由该实验室和普莱思公司合作设计、加工并组装的FEM/FIM综合测试仪.在实验过程中对仪器进行了多次改进后,首先观测钨针尖样品的FIM像及FEM像,同时也测试了系统的性能.为了研究SWCNTs的FEM和ZIM像,需要将SWCNTs组装到钨针尖上.实验中使用电化学腐蚀的方法得到清洁钨针尖,尝试了多种方法将SWCNTs组装到钨针尖上.利用FIM对这些样品进行观测,通过对样品做场蒸发和加热处理,得到两个样品的清晰SWCNTs的FIM像.对同一SWCNTs样品进行了FIM和FEM的观测.得到单根SWCNTs的FEM像,推断了它的结构,估算了直径大小,观测到了SWCNTs的FEM像在加热过程的变化,得到了样品的FIM像,研究了图像之间的对应关系.
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