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本文介绍了一种基于扫描波长法测试阵列波导光栅（AWG）产品光学性能参数的测试系统，该系统可以用于AWG产品生产环节中的半成品和成品测试，并可以同时测试插入损耗、偏振相关损耗、峰值波长、中心波长、带宽和串扰等多种AWG产品光学性能参数。文中比较了上述参数的测试方法，分析了国内外同类测试系统的优缺点和性能指标。最终，基于JDSU公司的扫描波长（SWS）设备成功设计并实现了一种成本低、高速度、并能满足AWG产品性能测试要求的波长扫描测试系统。 本文首先介绍了波长扫描系统的硬件架构，并结合实际应用设计了系统的校准方法和验证方法。这两种校准方法和验证方法充分的利用了系统的特点，选择了衰减器和气体吸收盒作为测试标准件，整个测试过程简单易行。本文即应用这两种方法分析系统测试波长和功率的稳定性，以及系统最终能够实现的测试分辨率。 本文为满足测试AWG产品的实际需要，在原有SWS测试系统底层软件的基础上，利用VB6.0工具开发出了可以在SWS系统中应用的AWG测试应用软件。该应用软件与SWS系统原有底层软件结合使用，可以完成SWS系统采集数据的后期处理，AWG待测参数计算。软件可以根据产品规格书判定被测试产品是否为合格产品，测试完成后可以生成测试报表。在SWS系统软件部分实现数据采集和应用层面的独立，大大提高了软件的灵活性，方便在AWG产品测试要求变化等因素影响下对程序升级。 同时，本文按照ISO9000标准对系统进行了测试系统分析（MSA），分析了系统的重复性、稳定性和系统误差来源，并提供一种方法实现系统应用中的过程控制。最后，本文对系统地进一步升级和改进进行了讨论。