针对合肥光源储存环恒流运行(Top-off)改造等性能提升的需要,研制了新型的基于嵌入式EPICS架构的储存环束流损失监测(BLM)系统,用于监测储存环中束流损失发生的位置和大小。合肥光源在二期升级改造之后,增加了水平方向的聚焦,使得束流发射度极大的降低,光源的稳定性明显提高。托歇克效应由于发射度的降低而增加,从而使得束流损失也增大。新BLM处理器获取储存环各处双PIN型光电二极管传感器所采集的簇射电子的信号,分析处理后通过各个处理器内部的嵌入式系统所运行的EPICS程序将数据实时发布到加速器控制网络,使中控室能够实时获取束损的数据。同时分析了束流损失产生的原因,影响束流寿命的原因和产生的辐射类型。在束流损失监测设备的设计中,首先根据储存环实际安装位置空间大小,确定了束流损失监控设备设计尺寸大小。再根据束流损失监控设备所需要的功能,设计了模数转换电路、电源电路、信号处理电路、MCU芯片监控电路、数据通讯电路、自检电路等。本文设计的束流损失监测系统具有两套模式,分别为测量模式和自检模式。两个模式区别在于切换双PIN型光电二极管的输出信号。在测量模式下,双PIN型光电二极管输出的信号为束流损失信号;在自检模式下,双PIN型光电二极管输出信号是一个固定的频率值。通过比较来判断束流损失设备是否正常工作,提高了系统运行的可靠性。束流损失监测设备有三种数据输出模式,分别为串口输出、触摸屏显示、网络传输。三种数据输出模式适用于调试、离线测试、在线测试三种测试方式,能极大的提高设备的测试灵活性。基于EPICS系统的架构能直接接入合肥光源控制系统,简化了系统结构,提高了系统的稳定性。经过试运行,观察了在合肥光源Decay模式、Injection模式和Top-off模式下的束流损失数据,结果表明新BLM系统满足合肥光源恒流运行的需要。