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提出了一种新的测试LD内损耗方法，它通过对后腔面镀高反膜，并对前腔面镀不同反射率增透膜，然后根据外微分量子效率倒数1／ηo与1／1n[1／（RfRr）的线性关系（Rf和Rr分别为前后腔面反射率）求出内损耗值。这样可以消除常用的测试LD内损耗方法中因管座反射带来的误差，使误差降低达15％。
LD内损耗测试新方法
【摘 要】
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提出了一种新的测试LD内损耗方法，它通过对后腔面镀高反膜，并对前腔面镀不同反射率增透膜，然后根据外微分量子效率倒数1／ηo与1／1n[1／（RfRr）的线性关系（Rf和Rr分别为前后腔面反射率）求
【机 构】
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北京工业大学电子信息与控制工程学院
【出 处】
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光电子·激光
【发表日期】
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2006年4期
【基金项目】
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国家“973”基金资助项目（G200068302）,北京市教委基金资助项目（KM200310005009）,北京市科委基金资助项目（D0404003040221）
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