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集成电路深亚微米制造技术和设计技术的迅速发展，使得基于IP核复用的SOC设计技术得到越来越广泛的应用，但由于IP核的来源不同，设计标准的不兼容等因素，使得SOC的测试变得越来越困难；IEEE为解决SOC的测试问题提出了嵌入式芯核测试标准IEEEStd1500，致力于建立标准化的IP核供应商和用户之间的测试接口，简化核测试信息的复用；文章详细介绍j-IEEEStd1500标准的测试架构，使用方法和核测试描述语言CTL，同时给出标准中提出的SOC可测性设计方法。