论文部分内容阅读
利用红外光谱(IR)和氢释放谱相结合的方法,研究了a-Si:H的结构与其光衰效应的关系,结果发现:随着Br含量的增加,IR谱中的2100cm-1峰以及H释放谱中的低峰逐渐减弱,以至完全消失.说明a-Si:H网络中的织构组织由于Br的掺入而逐渐消失,a-Si:H由均匀的Si-H组成.材料的光暗电导率比显著增加,达5×104,材料在500℃以上基本无H释放,结构稳定性增加.