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V93000 SoC测试平台提供可靠的RF测量能力，可以对整合射频、混合信号、数字、电源管理、嵌入式或堆叠式内存的各类最新的高集成度芯片进行测量。PortScale射频测试解决方案的设计采用固态设计，RF资源都集中在测试头中。PortScaleRFSE具配置12、24或48个射频测试端口。
Port Scale RF测试解决方案
【摘 要】
：
V93000 SoC测试平台提供可靠的RF测量能力，可以对整合射频、混合信号、数字、电源管理、嵌入式或堆叠式内存的各类最新的高集成度芯片进行测量。PortScale射频测试解决方案的
【出 处】
：
集成电路应用
【发表日期】
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2009年1期
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