【摘 要】
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利用Kramers-Kronig方法(K-K方法)测量了ZnO薄膜的复介电常数和复折射率(折射率和消光系数).为了满足K-K方法所要求的条件,光源发出的光束通过一个特殊设计的中间带孔的反射
【机 构】
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中国科学院结构分析重点实验室,中国科学院结构分析重点实验室,中国科学技术大学
【基金项目】
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国家自然科学基金，科技部快速反应基金
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利用Kramers-Kronig方法(K-K方法)测量了ZnO薄膜的复介电常数和复折射率(折射率和消光系数).为了满足K-K方法所要求的条件,光源发出的光束通过一个特殊设计的中间带孔的反射镜垂直投射到ZnO薄膜表面,在ZnO薄膜表面产生的反射光穿过反射镜中间的小孔进入单色仪,从而测量出正入射情况下ZnO薄膜的反射光谱.对有限波段下测量的数据经合理的外推后,得出全波段的薄膜反射谱,然后利用K-K方法计算出ZnO薄膜的复介电常数和复折射率.实验结果表明,氧化锌薄膜在可见光范围内的折射率近似为一常数3.5;在4
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