同步辐射X荧光法分析矿物流体包裹体若干问题的探讨

来源 :光谱学与光谱分析 | 被引量 : 0次 | 上传用户:Andylinzc
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本实验的目的是研究北京同步辐射装置 (BSRF)的 XRF实验装置对地质样品中的元素、特别是对轻元素的检测能力 ,并探讨利用目前这套装置检测流体包裹体样品时的若干问题。样品是以国家标准物质GBW0 710 6为基体 ,加入一定量的 Na Cl、 KCl,混合均匀后压制成的厚样片。测量在 BSRF的 XRF实验站进行 ,储存环电流约为 40 m A。样品与 Si(L i)半导体探测器的距离为 2 cm,同步辐射源的束斑为 2 0× 2 0 μm2。实验在大气条件下进行 ,采谱时间为 2 0 0秒。计算了各元素的相对检出限、采样深度、采样量和绝对量检出限 (达 10 - 8~ 10 - 1 0 g) ;并讨论了现有条件下分析流体包裹体样品时的可测量元素范围、包裹体深度的测量方法及深度对元素 XRF强度的影响、实验设备的最佳几何配置等问题。 The purpose of this experiment is to investigate the ability of the XRF experimental apparatus of Beijing Synchrotron Radiation Facility (BSRF) to detect the elements in geological samples, especially the light elements, and to explore some problems in using the current apparatus to detect fluid inclusion samples. Samples are based on the national standard substance GBW0 710 6 as a matrix, adding a certain amount of Na Cl, KCl, mixed into a thick sample pressed. Measurements were made at BSRF’s XRF experimental station with a storage ring current of about 40 mA. The distance between the sample and the Si (Li) semiconductor detector is 2 cm and the beam spot of the synchrotron radiation source is 20 × 20 μm2. Experiments were performed under atmospheric conditions with a spectral time of 200 seconds. The relative detection limit, the sampling depth, the sampling limit and the absolute detection limit (up to 10 - 8 ~ 10 - 10 g) of each element were calculated. The measurable quantities of the fluid inclusions were analyzed under the existing conditions The range of elements, the method of measuring the depth of inclusions and the influence of depth on the XRF intensity of elements, the optimal geometrical configuration of the experimental equipment, and so on.
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