论文部分内容阅读
概述激铫测温技术在光学薄膜制备中的应用及其在自动化方面的新进展。
光学薄膜制备中的激光测温技术
【摘 要】
：
概述激铫测温技术在光学薄膜制备中的应用及其在自动化方面的新进展。
【机 构】
：
复旦大学物理系
【出 处】
：
光学仪器
【发表日期】
：
1999年4期
其他文献
应用莫尔条纹方法，设计了一种显示燃气射流冲击场的实验装置，测出了射流冲击场的气流密度分析，指出了颗粒散射光是马赫盘附近对条纹清晰度差的原因，对得到的几种激波结构进行了分
以实验数据为基础，运用人工神经网络方法，建立了电子回旋共振等离子体化学气相沉积（ＥＣＲ Ｐｌａｓｍａ ＣＶＤ）淀积硅的氮、氧化物介质膜折射率ｎ与气流配比Ｑ（Ｎ２）／Ｑ（ＳｉＨ４）和Ｑ（Ｏ２）／Ｑ（ＳｉＨ４）关系的数学模型，此模型在给定气流配比Ｑ（Ｎ２）／Ｑ（ＳｉＨ４）和Ｑ（Ｏ２）／Ｑ（Ｓ９Ｈ４）时所
根据Ｍｉｅ散射理论计算了５种光学粉尘浓度测量仪的光散射响应特性曲线，对照呼吸性粉尘在人体呼吸道中的沉降效率曲线，对这些光学粉尘浓度测量仪的响应特性进行了分析。得出的结果是：采
报道在不加热的基底上，由双离子束溅射或离子辅助的电子束蒸发技术制的ＺｒＯ２和ＴｉＯ２单摹光学性质，并提供卫工艺参数和离子束设备的说情。这两种荷 能离子束工艺已被用于光学多层膜，如减反
对高斯光束通过光阑后产生的焦移，运用矩阵方法进行了分析，讨论了光阑不同大小对高斯光束变换的影响。
介绍了一种针对ＥＡＮ－１３码，ＵＰＣ－Ａ码的具有纠错功能的解码方法，该方法在采用基于紧一化宽度的查表译码方法的基础上，利用条码等字符的奇偶排列特性和校验位特性进行纠错，有效地降低了条码识读器
描写了一种新型的ＣＣＤ摄像头－计算机系统，它可以在镀膜基板激光测温的过程中跟踪光斑中心，从而测出移过光斑中心的干涉条纹数，达到镀膜基板激光测温自动化的目的。
叙述了使用溶胶－凝胶法在Si(001)基片上制备不同厚度的铁电铌酸锶钡薄膜的过程，使用X射线衍射，扫描电子显微镜，拉曼散射光谱等方法研究薄膜的微结构与薄膜厚度之间的关系，薄膜的厚
介绍了宽波段宽角宽偏振分束器，对膜系设计制备和测试结果作了简要的分析讨论。