论文部分内容阅读
提出了一种无理数字典码的测试数据压缩方案，能有效地压缩芯片测试数据。方案利用无理数序列建立字典，编码时只需进行相容性检查，无需填充无关位，简化了操作步骤；同时，选择局部压缩率最大的一组数据作为最终编码结果，保证压缩效果可以达到局部最优。对ISCAS 89标准电路Mintest集的实验结果显示，该方案的压缩效果优于传统压缩方法，如Golomb码、FDR码、混合定变长码等。