固体C60/p—GaAs异质结的整流特性和界面电子态

来源 :半导体学报 | 被引量 : 0次 | 上传用户:mcdonaldz
下载到本地 , 更方便阅读
声明 : 本文档内容版权归属内容提供方 , 如果您对本文有版权争议 , 可与客服联系进行内容授权或下架
论文部分内容阅读
我们将C60膜沉积在p-GaAs(100)衬底上,做成了固体C60/p-GaAs异质结并对其电学性质做了研究。异质结的理想因子接近于1,在偏压为±1V时,其整流比大于10^6倍,在正向偏压固定的情况下,结电流的对数与温度倒数成线性函数关系,从关系中求出异质结有效势垒高度为0.63eV。用深能级瞬态谱(DLTS)在C60/p-GaAs界面上观测到一个空穴陷阱,其能级为GaAs介带之上0.45eV,密
其他文献
基于是荷分享原理,推导了双栅和环栅MOSFET短沟效应引起的阈值电压下降,分析了衬底掺杂浓度、栅氧化层厚度及硅膜厚度等因素对阈值电压下降的影响,并用数值模拟验证了理论结果。
给出了低电压微波SiGe功率导质结双极晶体管(HBT)的器件结构和测试结果,器件结构适于低压大电流状态下应用,采用了梳状发射极条的横向版图设计,其工作电压为3-4V,在C类工作状态,1GHz
对CFG桩复合地基处理技术在潞安树脂公司项目中的应用进行了介绍,分别阐述了施工方案,相关参数设计及质量控制要点,并分析了施工中常见质量问题的原因,为今后同类工程项目提
随着社会的不断进步,物质文明的极大提高及建筑设计施工技术水平的日臻成熟和完善,同时也因土地资源日渐减少与人口增长之间,日益突出的矛盾,高层及超高层建筑的越来越多。为了保
提出一种全新的基于载流子求解的双栅MOSFET解析模型.针对无掺杂对称双栅MOSFET结构,该模型由求解泊松方程的载流子分布和Pao-Sah电流形式直接发展而来.发展的解析模型完全基
本文对射频溅射法沉积的a-SiC:H膜热退火形成6H-SiC相进行了研究。我们采用红外透射谱、喇曼背散射谱和X光衍射谱来研究退火形成6H-SiC的过程。在较高的射频功率下沉积的a-SiC:H膜经800℃60分钟等时退火后转变
随着信息技术在教育领域应用的不断深入,职前教师的TPACK结构发展问题成为了教师教育领域研究的热点问题。文章以某师范大学的2010级和2011级全部师范专业职前教师为研究对象
聚合物电致发光器件以其独有的优点在显示方面显现了光明的前景。聚合物电致发光器件的稳定性是器件实用化过程中所面临的一个重要的技术难题。合成了单层薄膜电致发光器件IT
本文报道用MOCVD方法制作高质量的InGaAs/GaAs应变量子阱材料.单量子阱样品在室温光伏谱中出现清晰的11H、12H、21H和22H激子吸收峰.首次用室温光伏方法研究表面自建电场导致InG
针对传统半波整波电路的不足提出了基于MOS工艺的改进方法及电路,该电路利用MOS工艺的寄生电容特性形成电荷转运,有效地提高了半波整波电路的整波效率,缩短了上电时间并在一定程