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【摘 要】电子器件在工作过程中故障时有发生，进行故障检测要采用科学的方法，检查、分析、判断和确定故障的具体部位及原因。因此，如何准确而有效的检测元器件的相关参数，排除电路中的故障就极为重要。
【关键词】电子元器件检测；问题；解决方法
引言
电子元器件的选择和应用方面的问题正在影响着元器件的性能继而影响整机的可靠性，这不仅仅是关系到国家国防相关的尖端科学研究和军事电子器件的可靠性问题，更是关系到人们的各种生产生活中的电子产品可靠性问题。
1.电子元器件的检测
1.1简单基本元件的检测
简单基本元件，指在工厂生产加工时不改变分子成份的成品，如电阻、电容、电感等，这些元件因为功能简单，且比较成熟稳定，与其说是对元件的检测，还不如说在元件采购进货前对供应商的检验。例如贴片类的电阻电容，如国巨、厚声、丽智、三星提供的，检验员可以检测其型号、规格，外标签是否以实物相对应。当然稍成熟的企业也可以购买LCR数字电桥，随机抽取少量的元件检测，这样既可以大大提高了元件质量的可信度，更是节约了检测的人工成本
1.2复杂但质量稳定的集成电路元器件检测
对于复杂的集成电路元器件，如XILINX中的FPGA芯片，因为管脚多达到一百个，且功能复杂，搭配工装测试更是花费人力、物力，何况还要求配备高素质的检验人员，就算购置了测量仪器，用途也不多，因为此元器件在企业使用十分稳定，根据历往年的使用情况，此元器件造成返修记录为零，故也可以采取外观检验，用目测检验方法，检验其规格型号，并记录此批次制造商及生产日期已足够。
1.3普遍常用的元器件检测
普遍常用的元器件是指工厂在生产加工时改变了原材料分子结构的产品，如二极管/发光二极管，保险丝，三极管，晶振，光耦，集成电路等。由于其普遍性且名目繁多，若要购置各种专门检测仪器，将会投入更多的财力，故不现实。然而，此类的元器件总是要经过检测，才能有“质”的把握，才能保证后续整机的质量。经过多年的实践摸索，要对这些元器件进行检测，可以运用以下三种方法：管脚“P-N”结测试法，功能测试法及性能测试法。
（1）管脚“P-N”结测试。
管脚“P-N”结测试法通过检查元器件管脚的电特征，与样本各个管脚的电特征比较，可发现元器件各个管脚的故障。例如，把万用表调到“P-N”结测试档，用“+”表笔接芯片的“GND”地脚，“-”表笔接芯片的各个非地脚，记录芯片各个非地脚的“P-N”结的电压。对于某些集成电路芯片，其管脚数多于16，可以采用管脚“P-N”结测试法。因为这些芯片的封装多种多样，要购买对应封装的测试座子要花费更多财力，况且若按照厂家提供的典型电路动手搭配工装即要花费大量的人力。
（2）功能测试。
功能测试法为从开发商下载相应的芯片.PDF文件，并根据此芯片的典型应用电路动手搭配工装测试。此方法是根据芯片的输入输出关系来判断元器件能否完成规定的电路，要比管理脚“P-N”结测试方法更接近整机使用要求，属于定性测试。如三个管脚的复位芯片TCM810/809，四个管脚的有源晶振，八个管脚的运放芯片TLC4501，八个管脚的负压转换电路MAX660CSA等。此类编程器也不贵，研发及生产阶段也可以用来编程。
（3）性能测试。
有些芯片，用管脚“P-N”结测试及功能测试法都不能发现故障，但用于实际整机时，却暴露出元器件内部缺陷。对于这些芯片就必须用性能测试法。性能测试属于定量测试，能检测元器件的电参数是否达标。例如破坏性物理分析及热冲击试验。当然，这种测试可以委托供应商或生产厂家测试并附上测试报告，从而大大降低企业实验成本。
（4）电子组件的测试。
由于外购的电子组件为基本完整的模块，如录像模块，网络摄像机模块，光纤收发器，电子罗盘等，为了节约搭配测试工装成本，在订购前，可以跟供应商协商，要求供方提供测试所需要额外的硬、软件，且提供检测技术支持。
2.电子元器件检测中的主要问题分析
目前我国电子元器件的检测过程主要存在企业缺乏对电子元器件检测的重视、企业缺乏高技能的电子元器件检测人才等问题。
2.1企业领导缺乏对电子元器件检测的重视。
企业相关领导过多重视企业产品的研发和生产的效率，却缺乏对电子元器件检测的重视程度，缺乏相关的检测制度和监察力度。企业内部缺乏对电子元器件检测的具体流程规定。在对电子元器件检测的过程中，不能仅仅通过简单的日常检查一带而过，这样的检测不能从根本上解决电子元器件的安全问题。例如在对电子元器件导电功能的检测过程中，很多员工只是进行通电试验，而对电子元器件的导电性能却缺乏相关的检测。
2.2企业缺乏高技能的电子元器件检测人才
企业中缺乏拥有高技能水平的电子元器件检测人才，也是造成企业电子元器件检测不全面、不细致的关键性因素。对于电子元器件的PN结、点流量值、工作电压等问题没有客观科学的认识。电子元器件的长期工作可能会造成发热量过高、管芯过热等情况，使电子元器件的内部组织遭到破坏，如果不进行及时的检测和处理，可能会造成PN结烧伤，导电系统破坏，从而引发安全问题，造成企业和人员的伤害。
3.有效解决电子元器件问题的措施
3.1加强电子元器件在加速寿命试验中的加速变量研究
电子元器件在加速寿命试验中的加速变量种类很多，只有选择正确的加速变量，才能使试验能够准确顺利进行。所以一定要加强对加速变量的物理性质研究，更好的掌握各种加速变量间的物理作用。例如在对航空元器件的寿命加速试验中，要充分考虑元器件的温度、电压和辐射力等的作用，因为这些因素无论是单一在试验中出现，还是综合起来形成的作用，都会影响实验结果的监测。只有对加速变量有足够的研究，对其物理特性有彻底的理解，才能创造性的利用这些性质回避其对试验造成的限制，才能为加速寿命试验的成功进行做好前期的准备。 3.2加强失效数据的获取
电子元器件加速寿命的整个试验，都可以被看作是在短时间内获得充足数据和信息量的过程。数据对于提高试验评估的准确性、缩短试验时间具有重大意义，所以要最大程度的在最短的时间内获取所需数据。提高试验结果评价的有效性、加强失效数据的获取，可以在试验中运用时间变化的方法，推广使用序进应力和步进应力的试验方法。另外，获得失效数据和信息的平台至少要搭建两个，尽量使用三个应力水平同时进行寿命加速试验。
4.加强相关领域人才的培养
电子元器件加速寿命试验是一个非常复杂的实验项目，它集物理、化学、科学、统计、预算等众多学科于一身，所以要求从业人员必须具备较高的专业技能和多方面的知识体系。因此要加强人才的培养和专业团队的建设，对各部门、各专业的工程师要着力培养，使其掌握更多的参数评估和失效物理知识，为更好的进行电子元器件加速寿命试验的实施进行人才储备。
结语
综上所述，电子元器件是设备系统中具有基础性作用的组成部分，其使用可靠性对于电子设备整体的运行效率有着重要的影响，因此，在进行电子元器件的选择时，应当确保其本身具有较强的可靠性，同时能够满足设备系统电性能指标的相关规定和要求，才能够确保设备的稳定运行。
参考文献：
[1]姜建国，王国林，孟宏伟，李昉，曾奕.一种电子元器件组装结果检测方法[J].西安电子科技大学学报，2014，03：110-115+173.
[2]史建卫，王建明，杜彬，杜军宽.电子组装中元器件的选择与应用[A].四川省电子学会SMT专委会、广东省电子学会SMT专委会、陕西省电子学会SMT专委会、上海市电子学会SMT专委会、安徽省软件协会SMT专委会、山东省电子制造技术专委会、南京市电子学会SMT专委会、清华大学伟创力SMT实验室、SMTAChina、励展博览集团、英国环球SMT与封装、EMAsia、电子工艺技术杂志社、广东技术师范学院SMT实训中心.2013中国高端SMT学术会议论文集[C].四川省电子学会SMT专委会、广东省电子学会SMT专委会、陕西省电子学会SMT专委会、上海市电子学会SMT专委会、安徽省软件协会SMT专委会、山东省电子制造技术专委会、南京市电子学会SMT专委会、清华大学伟创力SMT实验室、SMTAChina、励展博览集团、英国环球SMT与封装、EMAsia、电子工艺技术杂志社、广东技术师范学院SMT实训中心：，2013：22.
[3]罗弘，叶新艳，刘武.元器件检测的测量不确定度评定方法与实例[J].电子技术，2013，05：60-62.
【关键词】电子元器件检测；问题；解决方法
引言
电子元器件的选择和应用方面的问题正在影响着元器件的性能继而影响整机的可靠性，这不仅仅是关系到国家国防相关的尖端科学研究和军事电子器件的可靠性问题，更是关系到人们的各种生产生活中的电子产品可靠性问题。
1.电子元器件的检测
1.1简单基本元件的检测
简单基本元件，指在工厂生产加工时不改变分子成份的成品，如电阻、电容、电感等，这些元件因为功能简单，且比较成熟稳定，与其说是对元件的检测，还不如说在元件采购进货前对供应商的检验。例如贴片类的电阻电容，如国巨、厚声、丽智、三星提供的，检验员可以检测其型号、规格，外标签是否以实物相对应。当然稍成熟的企业也可以购买LCR数字电桥，随机抽取少量的元件检测，这样既可以大大提高了元件质量的可信度，更是节约了检测的人工成本
1.2复杂但质量稳定的集成电路元器件检测
对于复杂的集成电路元器件，如XILINX中的FPGA芯片，因为管脚多达到一百个，且功能复杂，搭配工装测试更是花费人力、物力，何况还要求配备高素质的检验人员，就算购置了测量仪器，用途也不多，因为此元器件在企业使用十分稳定，根据历往年的使用情况，此元器件造成返修记录为零，故也可以采取外观检验，用目测检验方法，检验其规格型号，并记录此批次制造商及生产日期已足够。
1.3普遍常用的元器件检测
普遍常用的元器件是指工厂在生产加工时改变了原材料分子结构的产品，如二极管/发光二极管，保险丝，三极管，晶振，光耦，集成电路等。由于其普遍性且名目繁多，若要购置各种专门检测仪器，将会投入更多的财力，故不现实。然而，此类的元器件总是要经过检测，才能有“质”的把握，才能保证后续整机的质量。经过多年的实践摸索，要对这些元器件进行检测，可以运用以下三种方法：管脚“P-N”结测试法，功能测试法及性能测试法。
（1）管脚“P-N”结测试。
管脚“P-N”结测试法通过检查元器件管脚的电特征，与样本各个管脚的电特征比较，可发现元器件各个管脚的故障。例如，把万用表调到“P-N”结测试档，用“+”表笔接芯片的“GND”地脚，“-”表笔接芯片的各个非地脚，记录芯片各个非地脚的“P-N”结的电压。对于某些集成电路芯片，其管脚数多于16，可以采用管脚“P-N”结测试法。因为这些芯片的封装多种多样，要购买对应封装的测试座子要花费更多财力，况且若按照厂家提供的典型电路动手搭配工装即要花费大量的人力。
（2）功能测试。
功能测试法为从开发商下载相应的芯片.PDF文件，并根据此芯片的典型应用电路动手搭配工装测试。此方法是根据芯片的输入输出关系来判断元器件能否完成规定的电路，要比管理脚“P-N”结测试方法更接近整机使用要求，属于定性测试。如三个管脚的复位芯片TCM810/809，四个管脚的有源晶振，八个管脚的运放芯片TLC4501，八个管脚的负压转换电路MAX660CSA等。此类编程器也不贵，研发及生产阶段也可以用来编程。
（3）性能测试。
有些芯片，用管脚“P-N”结测试及功能测试法都不能发现故障，但用于实际整机时，却暴露出元器件内部缺陷。对于这些芯片就必须用性能测试法。性能测试属于定量测试，能检测元器件的电参数是否达标。例如破坏性物理分析及热冲击试验。当然，这种测试可以委托供应商或生产厂家测试并附上测试报告，从而大大降低企业实验成本。
（4）电子组件的测试。
由于外购的电子组件为基本完整的模块，如录像模块，网络摄像机模块，光纤收发器，电子罗盘等，为了节约搭配测试工装成本，在订购前，可以跟供应商协商，要求供方提供测试所需要额外的硬、软件，且提供检测技术支持。
2.电子元器件检测中的主要问题分析
目前我国电子元器件的检测过程主要存在企业缺乏对电子元器件检测的重视、企业缺乏高技能的电子元器件检测人才等问题。
2.1企业领导缺乏对电子元器件检测的重视。
企业相关领导过多重视企业产品的研发和生产的效率，却缺乏对电子元器件检测的重视程度，缺乏相关的检测制度和监察力度。企业内部缺乏对电子元器件检测的具体流程规定。在对电子元器件检测的过程中，不能仅仅通过简单的日常检查一带而过，这样的检测不能从根本上解决电子元器件的安全问题。例如在对电子元器件导电功能的检测过程中，很多员工只是进行通电试验，而对电子元器件的导电性能却缺乏相关的检测。
2.2企业缺乏高技能的电子元器件检测人才
企业中缺乏拥有高技能水平的电子元器件检测人才，也是造成企业电子元器件检测不全面、不细致的关键性因素。对于电子元器件的PN结、点流量值、工作电压等问题没有客观科学的认识。电子元器件的长期工作可能会造成发热量过高、管芯过热等情况，使电子元器件的内部组织遭到破坏，如果不进行及时的检测和处理，可能会造成PN结烧伤，导电系统破坏，从而引发安全问题，造成企业和人员的伤害。
3.有效解决电子元器件问题的措施
3.1加强电子元器件在加速寿命试验中的加速变量研究
电子元器件在加速寿命试验中的加速变量种类很多，只有选择正确的加速变量，才能使试验能够准确顺利进行。所以一定要加强对加速变量的物理性质研究，更好的掌握各种加速变量间的物理作用。例如在对航空元器件的寿命加速试验中，要充分考虑元器件的温度、电压和辐射力等的作用，因为这些因素无论是单一在试验中出现，还是综合起来形成的作用，都会影响实验结果的监测。只有对加速变量有足够的研究，对其物理特性有彻底的理解，才能创造性的利用这些性质回避其对试验造成的限制，才能为加速寿命试验的成功进行做好前期的准备。 3.2加强失效数据的获取
电子元器件加速寿命的整个试验，都可以被看作是在短时间内获得充足数据和信息量的过程。数据对于提高试验评估的准确性、缩短试验时间具有重大意义，所以要最大程度的在最短的时间内获取所需数据。提高试验结果评价的有效性、加强失效数据的获取，可以在试验中运用时间变化的方法，推广使用序进应力和步进应力的试验方法。另外，获得失效数据和信息的平台至少要搭建两个，尽量使用三个应力水平同时进行寿命加速试验。
4.加强相关领域人才的培养
电子元器件加速寿命试验是一个非常复杂的实验项目，它集物理、化学、科学、统计、预算等众多学科于一身，所以要求从业人员必须具备较高的专业技能和多方面的知识体系。因此要加强人才的培养和专业团队的建设，对各部门、各专业的工程师要着力培养，使其掌握更多的参数评估和失效物理知识，为更好的进行电子元器件加速寿命试验的实施进行人才储备。
结语
综上所述，电子元器件是设备系统中具有基础性作用的组成部分，其使用可靠性对于电子设备整体的运行效率有着重要的影响，因此，在进行电子元器件的选择时，应当确保其本身具有较强的可靠性，同时能够满足设备系统电性能指标的相关规定和要求，才能够确保设备的稳定运行。
参考文献：
[1]姜建国，王国林，孟宏伟，李昉，曾奕.一种电子元器件组装结果检测方法[J].西安电子科技大学学报，2014，03：110-115+173.
[2]史建卫，王建明，杜彬，杜军宽.电子组装中元器件的选择与应用[A].四川省电子学会SMT专委会、广东省电子学会SMT专委会、陕西省电子学会SMT专委会、上海市电子学会SMT专委会、安徽省软件协会SMT专委会、山东省电子制造技术专委会、南京市电子学会SMT专委会、清华大学伟创力SMT实验室、SMTAChina、励展博览集团、英国环球SMT与封装、EMAsia、电子工艺技术杂志社、广东技术师范学院SMT实训中心.2013中国高端SMT学术会议论文集[C].四川省电子学会SMT专委会、广东省电子学会SMT专委会、陕西省电子学会SMT专委会、上海市电子学会SMT专委会、安徽省软件协会SMT专委会、山东省电子制造技术专委会、南京市电子学会SMT专委会、清华大学伟创力SMT实验室、SMTAChina、励展博览集团、英国环球SMT与封装、EMAsia、电子工艺技术杂志社、广东技术师范学院SMT实训中心：，2013：22.
[3]罗弘，叶新艳，刘武.元器件检测的测量不确定度评定方法与实例[J].电子技术，2013，05：60-62.