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基于Roentgen、Laue与Ewald、W.H.Bragg及W.L.Bragg、Friedrich和Krfipping等前辈X射线及其晶体学的研究与发现,X射线晶体结构分析已成为研究原子或离子在晶体点阵中结合、鉴定晶体化合物空间结构的可靠方法。Debye-Scherrer粉晶X射线衍射法(XIu)D)在合成氨装置101D工况技术分析中,比较有意义的实际应用是解决由不同单质或化合物组成的复杂混合堵塞物中晶体的鉴定问题。采用XRPD定性分析了合成氨装置101D堵塞物样品中的主要晶体成分。实验结果表明:本法