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在1.0GPa压力、343~962K温度和0.1~10^6Hz频率的条件下,使用Solartron 1260阻抗-增益/相位分析仪对含角闪石的片麻岩从平行和垂直面理两个不同方向分别进行了电阻抗的测定,并且进一步分析了片麻岩的微观导电机制.高温高压实验结果表明:片麻岩的复阻抗对温度、频率表现出明显的依赖性.片麻岩的电导率在平行和垂直面理两个方向表现出明显的各向异性,平行面理方向的电导率远大于垂直面理方向.二者的导电机制分别在~799K和~881K发生了变化,这一变化可能与角闪石的脱水相关.片麻岩中角闪石的脱