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在基于IP核复用技术的SOC(system-on-ch ip,SOC)芯片中,测试资源的稀缺性限制了IP核并行测试的能力,导致了SOC测试耗时过长的局面。同时SOC测试时必须满足一定的功耗约束,否则会造成测试芯片的损坏。针对SOC测试时间与测试功耗协同优化这一难题,本文采用群智能优化算法-量子粒子群(quantum-behaved partic le swarm optim ization,QPSO)算法来实现这一目标。结合QPSO算法和测试调度问题,设计算法的适应度计算法则并建立测试时间与测试功耗的协同