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通过化学溶液沉积法在氧化铟锡（ITO）／导电玻璃上生长了BiFeO，多晶薄膜．利用x射线衍射仪（XRD）、扫描电子显微镜（SEM）、X射线光电子能谱分析仪（XPS）、磁性测量系统（MPMS）和铁电测试仪对样品的结构、形貌、元素价态、铁磁性和铁电性进行研究．结果表明，薄膜为自取向生长，具有良好的[101]生长取向和平整的表面．室温下，样品呈铁磁性，沿样品取向方向为易磁化轴方向．铁电测试结果表明，其饱和电极化强度达到51．3℃／cm2．