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我们对水热法生长的高阻ZnO单晶,在进行热激电流(TSC)和热电效应谱(TEES)测量的同时,也进行了的热激发光(TL)的测量。在80-400K的温度范围内,测出多达13个深能级。热激电流所测的深能级大部分为空穴陷阱。热激电流与热激发光的温度谱有很大差别。它们呈互补行为,可能是非平衡载流子在不同的温度下,其寿命不同所致。